PAGANINI, GIOVANNI
PAGANINI, GIOVANNI
Dipartimento di Automatica e Informatica
036772
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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Built-In Self-Test Architecture Enabling Diagnosis for Massive Embedded Memory Banks in Large SoCs / Bernardi, P., Guerriero, A.M., Insinga, G., Paganini, G., Carnevale, G., Coppetta, M., Mischo, W., Ullmann, R.. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 13:2(2024). [10.3390/electronics13020303] | 1-gen-2024 | Bernardi, PaoloInsinga, GiorgioPaganini, Giovanni + | electronics-13-00303.pdf |