PAGANINI, GIOVANNI

PAGANINI, GIOVANNI  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

036772  

Mostra records
Risultati 1 - 1 di 1 (tempo di esecuzione: 0.015 secondi).
Citazione Data di pubblicazione Autori File
Built-In Self-Test Architecture Enabling Diagnosis for Massive Embedded Memory Banks in Large SoCs / Bernardi, P., Guerriero, A.M., Insinga, G., Paganini, G., Carnevale, G., Coppetta, M., Mischo, W., Ullmann, R.. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 13:2(2024). [10.3390/electronics13020303] 1-gen-2024 Bernardi, PaoloInsinga, GiorgioPaganini, Giovanni + electronics-13-00303.pdf