Archivio Istituzionale della RicercaCARASTRO, FILIPPO
CARASTRO, FILIPPO
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
064883
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Susceptibility to RFI of Monolithic GaN Current Sources
2025 Carastro, Filippo; Lena, Davide; Fiori, Franco
Design and Fabrication of a Test Board Assembly for a Silicon Photonics LIDAR Device
2023 Fincato, Antonio; Caltabiano, Daniele; Carastro, Filippo; Maggi, Luca; Shaw, Mark; Diotti, Paolo; Rodrigo, Aina Serrano; Rotta, Davide; Chiesa, Marco; Gianini, Linda; Galli, Matteo; Bajoni, Daniele
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Susceptibility to RFI of Monolithic GaN Current Sources / Carastro, F., Lena, D., Fiori, F.. - STAMPA. - (2025), pp. 757-762. (2025 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe) Parigi (Fra) 1-5 September 2025) [10.1109/EMCEurope61644.2025.11176201]. | 1-gen-2025 | Carastro, FilippoFiori, Franco + | Susceptibility_to_RFI_of_Monolithic_GaN_Current_Sources.pdf; Susceptibility_to_RFI_of_Monolithic_GaN_Current_Sources.pdf |
| Design and Fabrication of a Test Board Assembly for a Silicon Photonics LIDAR Device / Fincato, A., Caltabiano, D., Carastro, F., Maggi, L., Shaw, M., Diotti, P., Rodrigo, A.S., Rotta, D., Chiesa, M., Gianini, L., Galli, M., Bajoni, D.. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 5-11. (2023 IEEE 25th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) Singapore (Singapore) 05-08 December 2023) [10.1109/eptc59621.2023.10457907]. | 1-gen-2023 | Carastro, Filippo + | Carastro-Design_compressed.pdf; 133P2023210474.pdf |