Archivio Istituzionale della RicercaCARASTRO, FILIPPO
CARASTRO, FILIPPO
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
064883
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Susceptibility to RFI of Monolithic GaN Current Sources
2025 Carastro, Filippo; Lena, Davide; Fiori, Franco
Design and Fabrication of a Test Board Assembly for a Silicon Photonics LIDAR Device
2023 Fincato, Antonio; Caltabiano, Daniele; Carastro, Filippo; Maggi, Luca; Shaw, Mark; Diotti, Paolo; Rodrigo, Aina Serrano; Rotta, Davide; Chiesa, Marco; Gianini, Linda; Galli, Matteo; Bajoni, Daniele
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Susceptibility to RFI of Monolithic GaN Current Sources / Carastro, Filippo; Lena, Davide; Fiori, Franco. - STAMPA. - (2025), pp. 757-762. (Intervento presentato al convegno 2025 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe) tenutosi a Parigi (Fra) nel 1-5 September 2025). | 1-gen-2025 | Carastro, FilippoFiori, Franco + | Susceptibility_to_RFI_of_Monolithic_GaN_Current_Sources.pdf |
| Design and Fabrication of a Test Board Assembly for a Silicon Photonics LIDAR Device / Fincato, Antonio; Caltabiano, Daniele; Carastro, Filippo; Maggi, Luca; Shaw, Mark; Diotti, Paolo; Rodrigo, Aina Serrano; Rotta, Davide; Chiesa, Marco; Gianini, Linda; Galli, Matteo; Bajoni, Daniele. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 5-11. (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE 25th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) tenutosi a Singapore (Singapore) nel 05-08 December 2023) [10.1109/eptc59621.2023.10457907]. | 1-gen-2023 | Carastro, Filippo + | Carastro-Design_compressed.pdf; 133P2023210474.pdf |