ZHANG, JIANING

ZHANG, JIANING  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Online monitoring and correction method of threshold voltage in SiC MOSFET power cycling test / Wu, Qiang; Kang, Jianlong; Chen, Yu; Zheng, Fujun; Zhang, Jian; Luo, Haoze; Li, Wuhua; Iannuzzo, Francesco. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - ELETTRONICO. - 138:(2022). [10.1016/j.microrel.2022.114702] 1-gen-2022 Jian ZhangFrancesco Iannuzzo + File054.pdf1-s2.0-S0026271422002268-main.pdf