PORTO @ Archivio Istituzionale della Ricerca

Sfoglia per Autore  

Opzioni
Mostrati risultati da 41 a 60 di 215
Citazione Data di pubblicazione Autori File
Influence of the 1 Ω method test setup on IC conducted emission measurements / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - (2002), pp. 289-292. (Intervento presentato al convegno 16th International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility tenutosi a Wroclaw, Poland nel June 25-28, 2002). 1-gen-2002 FIORI, FrancoMUSOLINO, FRANCESCO -
A high immunity complementary differential pair / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - (2002). (Intervento presentato al convegno Emc Compo 2002 tenutosi a Toulouse nel nov. 2002). 1-gen-2002 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Linear voltage regulator susceptibility to conducted EMI / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - (2002), pp. 1398-1403. (Intervento presentato al convegno IEEE Int Symp. on industrial electronics, L'Aquila). 1-gen-2002 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
A New Complementary Differential Pair with High Immunity Features / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - (2002), pp. 389-392. (Intervento presentato al convegno Wroclaw Int. Symp. on EMC tenutosi a Wroclaw (PL) nel Giugno 2002). 1-gen-2002 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Analog Circuit Design with respect to EMI susceptibility / Fiori, Franco. - (2002). (Intervento presentato al convegno MEDEA Design Automation Conference tenutosi a Stresa IT nel October 2002). 1-gen-2002 FIORI, Franco -
Nonlinear effects of radio-frequency interference in operational amplifiers / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - In: IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I. FUNDAMENTAL THEORY AND APPLICATIONS. - ISSN 1057-7122. - STAMPA. - 49:3(2002), pp. 367-372. [10.1109/81.989173] 1-gen-2002 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Comparison of IC conducted measurement methods / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 52:(2003), pp. 839-845. [10.1109/TIM.2003.814685] 1-gen-2003 FIORI, FrancoMUSOLINO, FRANCESCO -
Prediction of EMI effects in operational amplifiers by a two input Volterra series model / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - In: IEE PROCEEDINGS. CIRCUITS, DEVICES AND SYSTEMS. - ISSN 1350-2409. - STAMPA. - 150:3(2003), pp. 185-193. [10.1049/ip-cds:20030342] 1-gen-2003 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Demodulation of Radio-Frequency Interference in CMOS Operational Amplifiers / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - In: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS. - ISSN 0916-8524. - E86-C:(2003), pp. 2309-2319. 1-gen-2003 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Measurement of IC radiated emissions by a novel technique / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - (2003), pp. 365-368. (Intervento presentato al convegno 15th International Zurich Symposium and Technical Exhibition on Electromagnetic Compatibility tenutosi a Zurich, Switzerland nel February 18-20, 2003). 1-gen-2003 FIORI, FrancoMUSOLINO, FRANCESCO -
Riferimento di tensione e di corrente / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - (2003). 1-gen-2003 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Comparison of the susceptibility to EMI of MOS and BJT operational amplifiers / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - (2003), pp. 369-372. (Intervento presentato al convegno international conference on emc - zurich tenutosi a zurich nel feb 18- 20, 2003). 1-gen-2003 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Measurement of IC radiated emission by a novel technique / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - (2003), pp. 365-368. (Intervento presentato al convegno International conference on emc - zurich tenutosi a zurich nel Feb. 18-20, 2003). 1-gen-2003 FIORI, FrancoMUSOLINO, FRANCESCO -
Design of a CMOS opamp input stage immune to EMI / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS. - ISSN 0020-7217. - STAMPA. - 90:2(2003), pp. 99-108. [10.1080/00207210310001595356] 1-gen-2003 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Compact temperature-compensated CMOS current reference / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - In: ELECTRONICS LETTERS. - ISSN 0013-5194. - 39:(2003), pp. 1663-1664. [10.1049/el:20030087] 1-gen-2003 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
Investigations on the effectiveness of the IC susceptibility TEM cell method / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY. - ISSN 0018-9375. - 46:(2004), pp. 110-115. [10.1109/TEMC.2004.823620] 1-gen-2004 FIORI, FrancoMUSOLINO, FRANCESCO -
Prediction of EMI-Induced Distortion Phenomena in CMOS Opamps by a New Large-Signal Model / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - STAMPA. - 2:(2004), pp. 253-256. (Intervento presentato al convegno int. symp. on emc - senday - 2004 tenutosi a senday (japan) nel may). 1-gen-2004 FIORI, FrancoCROVETTI, Paolo Stefano -
EMI-induced failures in PWM controllers for SMPS / Fiori, Franco. - (2004), pp. 120-123. (Intervento presentato al convegno International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMCEUROPE 04) tenutosi a Eindhoven (NL) nel sept. 2004). 1-gen-2004 FIORI, Franco -
Investigation on the effectiveness of the IC susceptibility TEM cell method / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY. - ISSN 0018-9375. - 46:(2004), pp. 110-115. 1-gen-2004 FIORI, FrancoMUSOLINO, FRANCESCO -
A new technique for the measurements of IC susceptibility to electrical fast transient / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - (2004), pp. 147-150. (Intervento presentato al convegno EMC Europe 2004 - International symposium on electromagnetic compatibility tenutosi a Eindhoven - Olanda nel September 6 -10, 2004). 1-gen-2004 FIORI, FrancoMUSOLINO, FRANCESCO -
Mostrati risultati da 41 a 60 di 215
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile