L'abstract è presente nell'allegato / the abstract is in the attachment

Dimensional metrology at the nanoscale: quantitative characterization of nanoparticles by means of metrological atomic force microscopy / Ribotta, Luigi. - (2022 Nov 04), pp. 1-240.

Dimensional metrology at the nanoscale: quantitative characterization of nanoparticles by means of metrological atomic force microscopy

RIBOTTA, LUIGI
2022

Abstract

L'abstract è presente nell'allegato / the abstract is in the attachment
4-nov-2022
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
PhD_thesis_Ribotta.pdf

accesso aperto

Descrizione: Tesi di dottorato
Tipologia: Tesi di dottorato
Licenza: Creative commons
Dimensione 6.86 MB
Formato Adobe PDF
6.86 MB Adobe PDF Visualizza/Apri
PhD_abstract_Ribotta.pdf

accesso aperto

Descrizione: Abstract tesi dottorato
Tipologia: Abstract
Licenza: Creative commons
Dimensione 360.99 kB
Formato Adobe PDF
360.99 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2972877