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Dimensional metrology at the nanoscale: quantitative characterization of nanoparticles by means of metrological atomic force microscopy / Ribotta, Luigi. - (2022 Nov 04), pp. 1-240.
Dimensional metrology at the nanoscale: quantitative characterization of nanoparticles by means of metrological atomic force microscopy
RIBOTTA, LUIGI
2022
Abstract
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https://hdl.handle.net/11583/2972877