Torsional behaviour of glass-joined, laser-processed Crofer 22 APU interconnect: Unravelling the effect of surface roughness on the shear strength / Smeacetto, F.; Zanchi, E.; Meena Narayana Menon, D.; Janner, D.; Lamnini, S.; Salvo, M.; De La Pierre, S.; Javed, H.; Ferraris, M.. - In: CERAMICS INTERNATIONAL. - ISSN 0272-8842. - ELETTRONICO. - 48:22(2022), pp. 32837-32843. [10.1016/j.ceramint.2022.07.210]
Torsional behaviour of glass-joined, laser-processed Crofer 22 APU interconnect: Unravelling the effect of surface roughness on the shear strength
F. Smeacetto;E. Zanchi;D. Meena Narayana Menon;D. Janner;S. Lamnini;M. Salvo;S. De La Pierre;H. Javed;
2022
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