Determination of the X-ray attenuation coefficient of bismuth oxychloride nanoplates in polydimethylsiloxane / Jagdale, Pravin; Rovere, Massimo; Ronca, Riccardo; Vigneri, Claudio; Bernardini, Francesco; Calzetta, Gianpiero; Tagliaferro, Alberto. - In: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE. - ISSN 0022-2461. - 5:(2020), pp. 7095-7105. [10.1007/s10853-020-04498-6]
Determination of the X-ray attenuation coefficient of bismuth oxychloride nanoplates in polydimethylsiloxane
Jagdale, Pravin;Rovere, Massimo;Tagliaferro, Alberto
2020
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
Jagdale2020_Article_DeterminationOfTheX-rayAttenua.pdf
non disponibili
Tipologia:
2a Post-print versione editoriale / Version of Record
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
707.5 kB
Formato
Adobe PDF
|
707.5 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2865492