Innovative Practices on Quality Levels of A/MS Devices / Dobbelaere, Wim; Violante, Massimo; Rearick, Jeff; Sarson, Peter. - ELETTRONICO. - (2018), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno VLSI Test Symposium [10.1109/VTS.2018.8368629].

Innovative Practices on Quality Levels of A/MS Devices

Massimo Violante;
2018

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11583/2860226