Archivio Istituzionale della RicercaExperimental Route to Scanning Probe Hot‐Electron Nanoscopy (HENs) Applied to 2D Material / Giugni, Andrea; Torre, Bruno; Allione, Marco; Das, Gobind; Wang, Zhenwei; He, Xin; N Alshareef, Husam; DI FABRIZIO, ENZO MARIO. - In: ADVANCED OPTICAL MATERIALS. - ISSN 2195-1071. - 5:1700195(2017). [10.1002/adom.201700195]
Experimental Route to Scanning Probe Hot‐Electron Nanoscopy (HENs) Applied to 2D Material
Bruno Torre;Enzo Di Fabrizio
2017
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
adom.201700195.pdf
non disponibili
Tipologia:
2a Post-print versione editoriale / Version of Record
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
4.26 MB
Formato
Adobe PDF
|
4.26 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2837362