Experimental Route to Scanning Probe Hot‐Electron Nanoscopy (HENs) Applied to 2D Material / Giugni, Andrea; Torre, Bruno; Allione, Marco; Das, Gobind; Wang, Zhenwei; He, Xin; N Alshareef, Husam; Di Fabrizio, Enzo Mario. - In: ADVANCED OPTICAL MATERIALS. - ISSN 2195-1071. - 5:1700195(2017). [10.1002/adom.201700195]
Titolo: | Experimental Route to Scanning Probe Hot‐Electron Nanoscopy (HENs) Applied to 2D Material | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2017 | |
Rivista: | ||
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1002/adom.201700195 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/2837362
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