PORTO @ 
Archivio Istituzionale della Ricerca
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishWe present the results of variable-angle spectroscopic ellipsometry and transmittance measurements to determine the variation of the complex refractive index of ion implanted single-crystal diamond. An increase is found in both real and imaginary parts at increasing damage densities. The index depth variation is determined in the whole wavelength range between 250 and 1690 nm. The dependence from the vacancy density is evaluated, highlighting a deviation from linearity in the high-damage-density regime. A considerable increase (up to 5%) in the real part of the index is observed, attributed to an increase in polarizability, thus offering new microfabrication possibilities for waveguides and other photonic structures in diamond.
Spectroscopic measurement of the refractive index of ion-implanted diamond / Battiato, A.; Bosia, F.; Ferrari, S.; Olivero, P.; Sytchkova, A.; Vittone, E.. - In: OPTICS LETTERS. - ISSN 0146-9592. - 37:4(2012), pp. 671-673.
| Titolo: | Spectroscopic measurement of the refractive index of ion-implanted diamond | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2012 | |
| Rivista: | ||
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1364/OL.37.000671 | |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| 2012_Battiato-Optics_Letters.pdf | 2a Post-print versione editoriale / Version of Record | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
http://hdl.handle.net/11583/2776355
Copyright © 2021