Modeling of Physical Defects in PN-Junction Based Graphene Devices / Miryala, Sandeep; M., Oleiro; L., Bolzani Pohls; Calimera, Andrea; Macii, Enrico; Poncino, Massimo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 30:3(2014), pp. 357-370. [10.1007/s10836-014-5458-4]
Modeling of Physical Defects in PN-Junction Based Graphene Devices
MIRYALA, SANDEEP;CALIMERA, ANDREA;MACII, Enrico;PONCINO, MASSIMO
2014
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2587355
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo