MOS Power Transistor Model for Electromagnetic Susceptibility Analysis / Bona C.; Fiori F.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 51:8(2011), pp. 1356-1364.
Titolo: | MOS Power Transistor Model for Electromagnetic Susceptibility Analysis |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2011 |
Rivista: | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2011.03.003 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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MOS power transistor model for Electromagnetic Susceptibility analysis.pdf | 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
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http://hdl.handle.net/11583/2382552
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