Archivio Istituzionale della RicercaFinding Multiple Equivalence-Preserving Transformations in Combinational Circuits through Incremental-SAT / Cabodi, Gianpiero; Dipietro, L; Murciano, Marco; Nocco, S.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 26:(2010), pp. 261-278. [10.1007/s10836-010-5144-0]
Finding Multiple Equivalence-Preserving Transformations in Combinational Circuits through Incremental-SAT
CABODI, Gianpiero;MURCIANO, MARCO;
2010
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https://hdl.handle.net/11583/2303174
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