Point-contact Andreev-reflection spectroscopy in ReFeAsO1-xFx (Re = La, Sm): Possible evidence for two nodeless gaps / Gonnelli, Renato; Daghero, Dario; Tortello, Mauro; Ummarino, Giovanni; Stepanov, V. A.; Kremer, R. K.; Kim, J. S.; Zhigadlo, N. D.; Karpinski, J.. - In: PHYSICA. C, SUPERCONDUCTIVITY. - ISSN 0921-4534. - 469:(2009), pp. 512-520. [10.1016/j.physc.2009.03.039]
Point-contact Andreev-reflection spectroscopy in ReFeAsO1-xFx (Re = La, Sm): Possible evidence for two nodeless gaps
GONNELLI, Renato;DAGHERO, Dario;TORTELLO, MAURO;UMMARINO, Giovanni;
2009
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2278077
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo