Influence of surface stress in the determination of the (220) lattice spacing of silicon / Ferroglio, Luca; Mana, G; Palmisano, C; Zosi, G.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 45:(2008), pp. 110-118.
Influence of surface stress in the determination of the (220) lattice spacing of silicon
FERROGLIO, LUCA;
2008
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2263945
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo