High resolution capabilities of all-silica cantilevered probes for near-field optical microscopy / Descrovi, Emiliano; L., Aeschimann; I., Soboleva; F., DE ANGELIS; Giorgis, Fabrizio; E., DI FABRIZIO; DI FABRIZIO, ENZO MARIO. - In: JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY. - ISSN 1533-4880. - STAMPA. - 9:(2009), pp. 6460-6464. [10.1166/jnn.2009.1334]
High resolution capabilities of all-silica cantilevered probes for near-field optical microscopy
DESCROVI, EMILIANO;GIORGIS, FABRIZIO;DI FABRIZIO, ENZO MARIO
2009
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1897358
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo