Monte Carlo Analysis of the Effects of Soft Errors Accumulation in SRAM-based FPGAs / Battezzati, Niccolo'; Sterpone, Luca; Violante, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 55:(2008), pp. 3381-3387. [10.1109/TNS.2008.2006839]
Monte Carlo Analysis of the Effects of Soft Errors Accumulation in SRAM-based FPGAs
BATTEZZATI, NICCOLO';STERPONE, Luca;VIOLANTE, MASSIMO
2008
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https://hdl.handle.net/11583/1847792
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