Reliability in MEMS: design of gold devices for mechanical fatigue tests / Soma', Aurelio; DE PASQUALE, Giorgio. - In: ROMANIAN JOURNAL OF INFORMATION SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 1453-8245. - 11 , n. 2:(2008), pp. 177-191.

Reliability in MEMS: design of gold devices for mechanical fatigue tests

SOMA', AURELIO;DE PASQUALE, GIORGIO
2008

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1727188
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo