Reliability in MEMS: design of gold devices for mechanical fatigue tests / Soma', Aurelio; DE PASQUALE, Giorgio. - In: ROMANIAN JOURNAL OF INFORMATION SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 1453-8245. - 11 , n. 2:(2008), pp. 177-191.
Reliability in MEMS: design of gold devices for mechanical fatigue tests
SOMA', AURELIO;DE PASQUALE, GIORGIO
2008
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https://hdl.handle.net/11583/1727188
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