FPGA-based test strategy for high resolution ADC: analysis, optimization and experimental results / DE VENUTO, D; Reyneri, Leonardo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 23:(2007), pp. 539-548.
FPGA-based test strategy for high resolution ADC: analysis, optimization and experimental results
REYNERI, Leonardo
2007
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https://hdl.handle.net/11583/1665246
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