Analysis of Defects in Metals, Semiconductors and Photoconducting Insulators through Current Noise Measurements / Carbone, ANNA FILOMENA; Mazzetti, Piero. - In: DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART A, DEFECT AND DIFFUSION FORUM. - ISSN 1012-0386. - 134:(1996), p. 25.
Analysis of Defects in Metals, Semiconductors and Photoconducting Insulators through Current Noise Measurements
CARBONE, ANNA FILOMENA;MAZZETTI, Piero
1996
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https://hdl.handle.net/11583/1663770
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