Time-Frequency Analysis of a Variable Stiffness Model for Fault Development / COHEN L; GALLEANI L.; HEDGES R; HUGHES D; LOUGHLIN P; SUTER B. - In: DIGITAL SIGNAL PROCESSING. - ISSN 1051-2004. - STAMPA. - 12:2-3(2002), pp. 429-440. [10.1006/dspr.2002.0458]
Titolo: | Time-Frequency Analysis of a Variable Stiffness Model for Fault Development | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2002 | |
Rivista: | ||
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1006/dspr.2002.0458 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/1663079
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