Correlation between optoelectronic properties and structure of a-SiC:H films grown from C2H2 source / F. GIORGIS; PIRRI C.; P. RAVA; E. TRESSO. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 75(1997), pp. 471-480.
Titolo: | Correlation between optoelectronic properties and structure of a-SiC:H films grown from C2H2 source | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 1997 | |
Rivista: | ||
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/1661237
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