Bonding structure and defects in wide band gap a-SiC:H films deposited in H2 diluted SiH4+CH4 gas mixtures / F. DEMICHELIS; F. GIORGIS; PIRRI C.; E. TRESSO. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STRUCTURAL, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 0958-6644. - 71(1995), pp. 1015-1021.
Titolo: | Bonding structure and defects in wide band gap a-SiC:H films deposited in H2 diluted SiH4+CH4 gas mixtures | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 1995 | |
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Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/1661217
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