Thermal modulated ESR for the study of defects in a-SiC:H films / F., Demichelis; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; E., Tresso; L., Ravera; V., Rigato. - In: MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS. - ISSN 0272-9172. - 336:(1994), p. 535.

Thermal modulated ESR for the study of defects in a-SiC:H films

GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;
1994

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1661177
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