Archivio Istituzionale della RicercaDepth profiling of defects in a-Si:H films by means of modulated photocurrent / G., Amato; Giorgis, Fabrizio; F., Fizzotti; C., Manfredotti. - In: SOLID STATE COMMUNICATIONS. - ISSN 0038-1098. - 86:(1993), p. 277.
Depth profiling of defects in a-Si:H films by means of modulated photocurrent
GIORGIS, FABRIZIO;
1993
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https://hdl.handle.net/11583/1661165
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