STRAY-FIELD EFFECTS IN SUBMICRON YBA2CU3O7–X BICRYSTAL GRAIN BOUNDARY JUNCTIONS / Testa, G; Laviano, Francesco; Kang, D. J.; Tarte, E. J.; Mennema, S. H.; Bramire, M. G.. - In: PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS. - ISSN 1098-0121. - 73:(2006), p. 014522.
STRAY-FIELD EFFECTS IN SUBMICRON YBA2CU3O7–X BICRYSTAL GRAIN BOUNDARY JUNCTIONS
LAVIANO, FRANCESCO;
2006
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https://hdl.handle.net/11583/1650052
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