Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films / Ricciardi, Carlo; Giorgis, Fabrizio; G., Fanchini; Musso, Simone; V., Ballarini; Bennici, Erica; G., Barucca; Rossi, Andrea Mario. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 14:(2005), pp. 1134-1137.
Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films
RICCIARDI, Carlo;GIORGIS, FABRIZIO;MUSSO, SIMONE;BENNICI, Erica;ROSSI, Andrea Mario
2005
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https://hdl.handle.net/11583/1646657
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