Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films

Ricciardi, Carlo; Giorgis, Fabrizio; Fanchini, G.; Musso, Simone; Ballarini, V.; Bennici, Erica; Barucca, G.; Rossi, Andrea Mario

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Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films / RICCIARDI C.; F. GIORGIS; G. FANCHINI; S. MUSSO; V. BALLARINI; E. BENNICI; G. BARUCCA; A.M. ROSSI. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 14(2005), pp. 1134-1137.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11583/1646657

Titolo:	Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films
Autori:	RICCIARDI, Carlo GIORGIS, FABRIZIO G. FANCHINI MUSSO, SIMONE V. BALLARINI BENNICI, Erica G. BARUCCA ROSSI, Andrea Mario mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2005
Rivista:	DIAMOND AND RELATED MATERIALS
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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