Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films / RICCIARDI C.; F. GIORGIS; G. FANCHINI; S. MUSSO; V. BALLARINI; E. BENNICI; G. BARUCCA; A.M. ROSSI. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 14:(2005), pp. 1134-1137.
Titolo: | Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2005 | |
Rivista: | ||
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/1646657
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