Archivio Istituzionale della RicercaA new approach to estimate the effect of single event transients in complex circuits / Aguirre, M. A.; Baena, V; Tombs, J; Violante, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - (2007), pp. 1018-1024. [10.1109/TNS.2007.895549]
A new approach to estimate the effect of single event transients in complex circuits
VIOLANTE, MASSIMO
2007
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https://hdl.handle.net/11583/1550411
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