A new approach to estimate the effect of single event transients in complex circuits / AGUIRRE M. A; BAENA V; TOMBS J; VIOLANTE M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - (2007), pp. 1018-1024. [10.1109/TNS.2007.895549]
Titolo: | A new approach to estimate the effect of single event transients in complex circuits | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2007 | |
Rivista: | ||
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2007.895549 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/1550411
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