MICROELECTRONICS ENGINEERING
Structural and optical properties of Fe1-xMxSi2 thin films (M=Co,Mn) / M., Fanciulli; A., Zenkevitch; Tresso, Elena Maria; M., Baricco; C., Vanzini. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 55:(2001), pp. 233-241.
Structural and optical properties of Fe1-xMxSi2 thin films (M=Co,Mn)
TRESSO, Elena Maria;
2001
Abstract
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https://hdl.handle.net/11583/1406658
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