A new capacitive method is presented, suitable for measuring thermal diffusivity with an accuracy of ± 1% and thermal expansion with an accuracy of ± 2% in high-conducting materials. Preliminary data for pure aluminium, consistent with the literature, are reported.
Thermal diffusivity and thermal expansion in high-conducting materials: a capacitance method / Omini, MARCO LUIGI; Sparavigna, Amelia Carolina; Strigazzi, Alfredo. - In: EUROPHYSICS LETTERS. - ISSN 0295-5075. - STAMPA. - 10:2(1989), pp. 129-134. [10.1209/0295-5075/10/2/007]
Thermal diffusivity and thermal expansion in high-conducting materials: a capacitance method
OMINI, MARCO LUIGI;SPARAVIGNA, Amelia Carolina;STRIGAZZI, Alfredo
1989
Abstract
A new capacitive method is presented, suitable for measuring thermal diffusivity with an accuracy of ± 1% and thermal expansion with an accuracy of ± 2% in high-conducting materials. Preliminary data for pure aluminium, consistent with the literature, are reported.File in questo prodotto:
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https://hdl.handle.net/11583/1405987
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