Archivio Istituzionale della RicercaX-ray Characterization of the new Nasicon composition Na3Zr2-x/4Si2-xP1+xO12 with x = 0.333, 0.667, 1.000, 1.333, 1.667 / M., Luccoborlera; Mazza, Daniele; Montanaro, Laura; A., Negro; Ronchetti, Silvia Maria. - In: POWDER DIFFRACTION. - ISSN 0885-7156. - 12:3(1997), pp. 171-174. [10.1017/S0885715600009660]
X-ray Characterization of the new Nasicon composition Na3Zr2-x/4Si2-xP1+xO12 with x = 0.333, 0.667, 1.000, 1.333, 1.667
MAZZA, Daniele;MONTANARO, Laura;RONCHETTI, Silvia Maria
1997
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https://hdl.handle.net/11583/1403339
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