Archivio Istituzionale della RicercaCharacterization of silicon–YBCO buffered multilayers grown by sputtering / Chiodoni, A., Ballarini, V., Botta, D., Camerlingo, C., Fabbri, F., Ferrari, S., Gerbaldo, R., Ghigo, G., Gozzelino, L., Laviano, F., Pirri, C., Tallarida, G., Tresso, E.M., Minetti, B., Mezzetti, E.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 238:1-4(2004), pp. 485-489. [10.1016/j.apsusc.2004.05.248]
Characterization of silicon–YBCO buffered multilayers grown by sputtering
CHIODONI, ANGELICA;BOTTA, Danilo;GERBALDO, Roberto;GHIGO, GIANLUCA;GOZZELINO, LAURA;LAVIANO, FRANCESCO;PIRRI, Candido;TRESSO, Elena Maria;MINETTI, Bruno;MEZZETTI, Enrica
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1402648
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