Structural and morphological properties of evaporated SiOx films / E., M., A. M., R., M., R., Gonnelli, R., V., L., G., A.. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 80:(2000), pp. 523-529.
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https://hdl.handle.net/11583/1400897
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