Measurement of Integrated Circuit conducted emission by using a transverse electromagnetic (TEM) cell / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY. - ISSN 0018-9375. - 43:(2001), pp. 622-628. [10.1109/15.974643]
Measurement of Integrated Circuit conducted emission by using a transverse electromagnetic (TEM) cell
FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO
2001
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https://hdl.handle.net/11583/1400070
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