The use of ellipsometry for surface film characterization in friction and wear phenomena / Cavatorta, Maria Pia. - In: EXPERIMENTAL TECHNIQUES. - ISSN 0732-8818. - 25:(2001), pp. 30-32.

The use of ellipsometry for surface film characterization in friction and wear phenomena

CAVATORTA, Maria Pia
2001

2001
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1399252
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo