Archivio Istituzionale della RicercaAccuracy Evaluation of NIST F-1 / S. R., Jefferts; D. M., Meekhof; J., Shirley; T. E., Parker; C., Nelson; F., Levi; Costanzo, Giovanni Antonio; DE MARCHI, Andrea; R., Drullinger; L., Hollberg; W. D., Lee; F. L., Walls. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 39:(2002), pp. 321-336.
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https://hdl.handle.net/11583/1399179
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