Built-In Self test of Sequential Circuits — A New Evolutionary Paradigm for Cultivating Cellular Automata / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni - In: Evolutionary Algorithms for Embedded System Design / R. DRECHSLER EDITOR; N. DRECHSLER EDITOR. - DORDRECHT : Kluwer Academic Publishers, 2002. - ISBN 9781402072765. - pp. 143-173
Built-In Self test of Sequential Circuits — A New Evolutionary Paradigm for Cultivating Cellular Automata
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1396445
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