Archivio Istituzionale della RicercaAMATO, GIAMPIERO
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Conteggio di singoli elettroni per il campione di corrente elettrica
2017 Finardi, Ilaria; Amato, Giampiero; Callegaro, Luca; Croin, Luca; Enrico, Emanuele
Grain boundaries and electrical behaviour in CVD graphene
2015 Simonetto, Enrico; Milano, G; Enrico, Emanuele; Manzin, Alessandra; Amato, Giampiero
Modeling of defect effects on sensitivity of Graphene Hall devices
2015 Simonetto, Enrico; Manzin, Alessandra; Amato, Giampiero
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Conteggio di singoli elettroni per il campione di corrente elettrica / Finardi, Ilaria; Amato, Giampiero; Callegaro, Luca; Croin, Luca; Enrico, Emanuele. - STAMPA. - (2017), pp. 21-22. (Intervento presentato al convegno I Forum Nazionale delle Misure tenutosi a Modena nel 13-16 Settembre 2017). | 1-gen-2017 | FINARDI, ILARIAAMATO, GIAMPIEROCROIN, LUCAENRICO, EMANUELE + | GMEE_printed_proceedings.pdf |
| Grain boundaries and electrical behaviour in CVD graphene / Simonetto, Enrico; Milano, G; Enrico, Emanuele; Manzin, Alessandra; Amato, Giampiero. - (2015). (Intervento presentato al convegno Graphene week 2015). | 1-gen-2015 | SIMONETTO, ENRICOENRICO, EMANUELEMANZIN, AlessandraAMATO, GIAMPIERO + | - |
| Modeling of defect effects on sensitivity of Graphene Hall devices / Simonetto, Enrico; Manzin, Alessandra; Amato, Giampiero. - (2015). (Intervento presentato al convegno Graphene Study). | 1-gen-2015 | SIMONETTO, ENRICOMANZIN, AlessandraAMATO, GIAMPIERO | - |