Archivio Istituzionale della RicercaRICHELLI, ANNA
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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Relaxation Digital-to-Analog Converters Featuring Self-Calibration and Parasitics-Induced Error Suppression in 180-nm CMOS / Rubino, R.; Musolino, F.; Leite Correia de Toledo, P.; Chen, Y.; Richelli, A.; Crovetti, P. S.. - In: IEEE ACCESS. - ISSN 2169-3536. - ELETTRONICO. - 13:(2025), pp. 6594-6605. [10.1109/ACCESS.2025.3526209] | 1-gen-2025 | Rubino R.Musolino F.Leite Correia de Toledo P.Richelli A.Crovetti P. S. + | Relaxation_Digital-to-Analog_Converters_Featuring_Self-Calibration_and_Parasitics-Induced_Error_Suppression_in_180-nm_CMOS.pdf |