MICUCCI, DANIELE
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 27
EU - Europa 7
NA - Nord America 7
SA - Sud America 6
Totale 47
Nazione #
CN - Cina 9
SG - Singapore 9
US - Stati Uniti d'America 7
JP - Giappone 6
BR - Brasile 3
IT - Italia 3
AR - Argentina 2
KR - Corea 2
CH - Svizzera 1
EC - Ecuador 1
IE - Irlanda 1
NL - Olanda 1
PK - Pakistan 1
RU - Federazione Russa 1
Totale 47
Città #
Singapore 7
Matsumoto 6
Ashburn 4
Hefei 3
Turin 3
Beijing 2
Seoul 2
Berazategui 1
Blumenau 1
Conselheiro Lafaiete 1
Council Bluffs 1
Dublin 1
Faisalabad 1
Guayaquil 1
Paudex 1
Philadelphia 1
Rosario 1
St Petersburg 1
Vespasiano 1
Totale 39
Nome #
Influence of semiconductor thickness for the contact resistance measurement with transfer length method at the interface between bismuth telluride thermoelectric materials and metals 50
Totale 50
Categoria #
all - tutte 117
article - articoli 117
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 234


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2024/202521 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 13 8
2025/202629 10 16 3 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 50