MICUCCI, DANIELE

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Influence of semiconductor thickness for the contact resistance measurement with transfer length method at the interface between bismuth telluride thermoelectric materials and metals / Katsura, A.; Tsurumoto, M.; Suetake, A.; Hirose, Y.; Micucci, D.; Specchia, S.; Sugahara, T.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - STAMPA. - 819:(2025), pp. 1-8. [10.1016/j.tsf.2025.140668] 1-gen-2025 Micucci, D.Specchia, S. + Thin Solid Films 819 2025 140668 - Katsura.pdfThin Solid Films - Katsura postprint.pdf