Archivio Istituzionale della RicercaFERRERO, CHIARA
FERRERO, CHIARA
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
091301
Simulation and first characterization of MAPS test structures with gain for timing applications
2024 Corradino, T.; Neubüser, C.; Giovanazzi, G.; Andrini, G.; Ferrero, C.; Gioachin, G.; Durando, S.; Follo, U.; Dalla Betta, G. F.; Mandurrino, M.; Pancheri, L.
Validation of the 65 nm TPSCo CMOS imaging technology for the ALICE ITS3
2024 Ferrero, C.; on behalf of the ALICE, Collaboration
Design of an analog monolithic pixel sensor prototype in TPSCo 65 nm CMOS imaging technology
2023 Deng, W.; Aglieri Rinella, G.; Aresti, M.; Baudot, J.; Benotto, F.; Beole, S.; Bialas, W.; Borghello, G.; Bugiel, S.; Campbell, M.; Carnesecchi, F.; Charbon, E.; Cecconi, L.; Colledani, C.; de Melo, J. L. A.; Dorda Martin, A.; Dorokhov, A.; Ferrero, C.; Hasenbichler, J.; Hong, G. H.; Hu, C.; Huang, G.; Kluge, A.; Kugathasan, T.; La Rocca, P.; Mager, M.; Marras, D.; Martinengo, P.; Munker, M.; Perciballi, S.; Piro, F.; Prino, F.; Rebane, K.; Reidt, F.; Sanna, I.; Sarritzu, V.; Savino, U.; Snoeys, W.; Suljic, M.; Termo, G.; Triffiro, A.; Turcato, A.; Usai, G.; Wu, Y.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Simulation and first characterization of MAPS test structures with gain for timing applications / Corradino, T.; Neubüser, C.; Giovanazzi, G.; Andrini, G.; Ferrero, C.; Gioachin, G.; Durando, S.; Follo, U.; Dalla Betta, G. F.; Mandurrino, M.; Pancheri, L.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - STAMPA. - 19:02(2024). [10.1088/1748-0221/19/02/c02036] | 1-gen-2024 | Andrini, G.Ferrero, C.Gioachin, G.Durando, S.Follo, U.Mandurrino, M. + | Andrini-Simulation.pdf |
| Validation of the 65 nm TPSCo CMOS imaging technology for the ALICE ITS3 / Ferrero, C.; on behalf of the ALICE, Collaboration. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - STAMPA. - 19:04(2024). [10.1088/1748-0221/19/04/c04043] | 1-gen-2024 | Ferrero, C. + | Ferrero_2024_J._Inst._19_C04043.pdf |
| Design of an analog monolithic pixel sensor prototype in TPSCo 65 nm CMOS imaging technology / Deng, W.; Aglieri Rinella, G.; Aresti, M.; Baudot, J.; Benotto, F.; Beole, S.; Bialas, W.; Borghello, G.; Bugiel, S.; Campbell, M.; Carnesecchi, F.; Charbon, E.; Cecconi, L.; Colledani, C.; de Melo, J. L. A.; Dorda Martin, A.; Dorokhov, A.; Ferrero, C.; Hasenbichler, J.; Hong, G. H.; Hu, C.; Huang, G.; Kluge, A.; Kugathasan, T.; La Rocca, P.; Mager, M.; Marras, D.; Martinengo, P.; Munker, M.; Perciballi, S.; Piro, F.; Prino, F.; Rebane, K.; Reidt, F.; Sanna, I.; Sarritzu, V.; Savino, U.; Snoeys, W.; Suljic, M.; Termo, G.; Triffiro, A.; Turcato, A.; Usai, G.; Wu, Y.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - STAMPA. - 18:01(2023). [10.1088/1748-0221/18/01/C01065] | 1-gen-2023 | Ferrero, C. + | Deng_2023_J._Inst._18_C01065.pdf |