DE RUVO, EDOARDO
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 23
NA - Nord America 9
AS - Asia 6
Totale 38
Nazione #
IT - Italia 23
US - Stati Uniti d'America 9
BD - Bangladesh 5
SG - Singapore 1
Totale 38
Città #
Figino 5
Milan 5
Turin 5
Council Bluffs 3
San Jose 3
Rome 2
Boardman 1
Catania 1
Frisco 1
Los Angeles 1
Totale 27
Nome #
Role of Traps in Gate Leakage Current in p-gate GaN HEMTs Through TCAD Simulations 26
TCAD Simulations of Degradation Mechanism in p-GaN Gate HEMTs under Gate Stress 18
Totale 44
Categoria #
all - tutte 94
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 94
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 188


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2025/202644 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 12 32
Totale 44