BAVA, ELIO
BAVA, ELIO
Dipartimento di Elettronica (attivo dal 01/01/1900 al 31/12/2011)
004100
Laser ECDL stabilizzato in frequenza su riferimento molecolare di HI a 1541 nm
2008 Pesatori, A; Calabrese, V; Norgia, M; SVELTO C., GALZERANO G; Bava, Elio
Optical frequency standard by HI Doppler-broadened absorption and external-cavity laser diode at 1.541 µm
2008 Pesatori, A; Norgia, M; Calabrese, V; Galzerano, G; Bava, Elio; Svelto, C.
Frequency stabilization of an external cavity diode laser against HI molecule at 1.541 um
2007 A., Pesatori; M., Norgia; G., Galzerano; Bava, Elio; AND C., Svelto
“Stabilizzazione di un laser a cavità estesa sulla riga di assorbimento dello ioduro d’idrogeno a 1.541 µm”,
2007 A., Pesatori; V., Calabrese; M., Norgia; G., Galzerano; Bava, Elio; C., Svelto
Amplitude and frequency noise sensitivities of optical frequency discriminators based on Fabry-Perot interferometers and the FM technique
2006 Bava, Elio; G., Galzerano; C., Svelto
Caratterizzazione a temperatura ambiente di un laserYb:KYF4
2006 C., Svelto; A., Pesatori; M., Norgia; G., Galzerano; Bava, Elio
Laser spectroscopy of CH3D and HI at 1,54 μm and absolute frequency stabilization
2006 M., Norgia; A., Pesatori; G., Galzerano; Bava, Elio; F., Bertinetto; M., Bisi; J. C., Petersen; J., Henningsen; C., Svelto
“Absolute Laser Frequency Stabilization to R(3) Absorption Line of HI at 1541.06 nm”
2006 M., Norgia; A., Pesatori; G., Galzerano; Bava, Elio; AND C., Svelto
“Caratterizzazione a temperatura ambiente di un laser Yb:KYF4 pompato a diodo”
2006 C., Svelto; M., Norgia; A., Pesatori; G., Galzerano; Bava, Elio
FM Spectroscopy of Monodeuterated Methane as a Frequency Standard at 1.54 µm
2005 C., Svelto; M., Norgia; Bava, Elio; G., Galzerano
Laser Spectroscopy of Hydrogen Iodide molecule at 1.54 µm
2005 C., Svelto; G., Galzerano; M., Norgia; Bava, Elio
Measurements of Near Infrared Frequency Mixing by Metal-Semiconductor Point-Contact Diodes
2005 Bava, Elio; N., Beverini; G., Carelli; A., DE MICHELE; G., Galzerano; E., Maccioni; A., Moretti; M., Prevedelli; F., Sorrentino; C., Svelto
Frequency stabilisation of a 1.54 µm Er-Yb microlaser against Doppler-free 13C2H2 absorptions
2002 Galzerano, G.; Svelto, C.; Ferrario, F.; Bava, Elio
Frequency-Noise Sensitivity and Amplitude-Noise Immunity of Discriminators Based on Fringe-Side Fabry-Perot Cavities
2002 Bava, Elio; Galzerano, G.; Svelto, C.
High-Resolution Spectroscopy of the 39K Transitions at 770 nm and 13C2H2 Saturated Lines by a Solid-State Laser at 1.54 um: Toward an Accurate Frequency Standard in the Optical Communication Band
2002 Svelto, C.; Galzerano, G.; Bava, Elio; Ferrario, F.; Arie, A.; Klein, R.; Arbore, M. A.; Fejer, M. A.; Onae, A.; Marano, M.
Amplitude and frequency stabilized solid-state lasers in the near infrared
2001 Laporta, P.; Taccheo, S.; Marano, M.; Svelto, O.; Bava, Elio; Galzerano, G; Svelto, C.
Diode-pumped 2 μm optical oscillator for high-resolution spectroscopy and frequency metrology
2001 Galzerano, G.; Svelto, C.; Bava, Elio
Amplitude response of Fabry-Perot frequency discriminators UFFC
2000 Bava, Elio; G., Galzerano; C., Svelto
Measurement and characterization of the frequency noise of a laser-diode-pumped single-frequency Tm-Ho:YAG laser
2000 P., Laporta; Bava, Elio; C., Svelto; A., Sapia; A., Cosentino
Realization and characterization of fiber-pumped room temperature Tm:YAG and Tm-Ho:YAG lasers at 2 umwavelength
2000 C., Svelto; G., Galzerano; A., Maffiolini; Bava, Elio
Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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Laser ECDL stabilizzato in frequenza su riferimento molecolare di HI a 1541 nm / Pesatori, A; Calabrese, V; Norgia, M; SVELTO C., GALZERANO G; Bava, Elio. - (2008), pp. 7-8. (Intervento presentato al convegno XXV Congresso Nazionale GMEE tenutosi a Frascati nel settembre 2008). | 1-gen-2008 | BAVA, ELIO + | - |
Optical frequency standard by HI Doppler-broadened absorption and external-cavity laser diode at 1.541 µm / Pesatori, A; Norgia, M; Calabrese, V; Galzerano, G; Bava, Elio; Svelto, C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 57(8):(2008), pp. 1708-1712. | 1-gen-2008 | BAVA, ELIO + | - |
Frequency stabilization of an external cavity diode laser against HI molecule at 1.541 um / A., Pesatori; M., Norgia; G., Galzerano; Bava, Elio; AND C., Svelto. - (2007). (Intervento presentato al convegno 24th IEEE Instrumentation and Measurements Technical Conference, IMTC ’07, tenutosi a Warsaw (PL), nel May 1-3 2007). | 1-gen-2007 | BAVA, ELIO + | - |
“Stabilizzazione di un laser a cavità estesa sulla riga di assorbimento dello ioduro d’idrogeno a 1.541 µm”, / A., Pesatori; V., Calabrese; M., Norgia; G., Galzerano; Bava, Elio; C., Svelto. - (2007), pp. 25-26. (Intervento presentato al convegno XXIV Congresso Nazionale GMEE tenutosi a Torino nel 5-8 settembre 2007). | 1-gen-2007 | BAVA, ELIO + | - |
Amplitude and frequency noise sensitivities of optical frequency discriminators based on Fabry-Perot interferometers and the FM technique / Bava, Elio; G., Galzerano; C., Svelto. - In: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. - ISSN 0034-6748. - 77:(2006). | 1-gen-2006 | BAVA, ELIO + | - |
Caratterizzazione a temperatura ambiente di un laserYb:KYF4 / C., Svelto; A., Pesatori; M., Norgia; G., Galzerano; Bava, Elio. - (2006), pp. 11-12. (Intervento presentato al convegno XXIII Congresso Nazionale GMEE tenutosi a L'Aquila nel 10 - 13 settembre 2006). | 1-gen-2006 | BAVA, ELIO + | - |
Laser spectroscopy of CH3D and HI at 1,54 μm and absolute frequency stabilization / M., Norgia; A., Pesatori; G., Galzerano; Bava, Elio; F., Bertinetto; M., Bisi; J. C., Petersen; J., Henningsen; C., Svelto. - (2006), pp. 264-265. (Intervento presentato al convegno 2006 Conference on precision electromagnetic measurements tenutosi a Torino nel July 9 - 14 2006). | 1-gen-2006 | BAVA, ELIO + | - |
“Absolute Laser Frequency Stabilization to R(3) Absorption Line of HI at 1541.06 nm” / M., Norgia; A., Pesatori; G., Galzerano; Bava, Elio; AND C., Svelto. - (2006), pp. 458-461. (Intervento presentato al convegno 23th IEEE Instrumentation and Measurements Technical Conference, IMTC ’06, tenutosi a Sorrento (IT) nel April 24-27). | 1-gen-2006 | BAVA, ELIO + | - |
“Caratterizzazione a temperatura ambiente di un laser Yb:KYF4 pompato a diodo” / C., Svelto; M., Norgia; A., Pesatori; G., Galzerano; Bava, Elio. - (2006), pp. 11-12. (Intervento presentato al convegno XXIII CONGRESSO NAZIONALE GMEE ’06 tenutosi a L’AQUILA (IT) nel 11-13 settembre 2006). | 1-gen-2006 | BAVA, ELIO + | - |
FM Spectroscopy of Monodeuterated Methane as a Frequency Standard at 1.54 µm / C., Svelto; M., Norgia; Bava, Elio; G., Galzerano. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - Vol. 54, No. 4:(2005), pp. 1630-1633. | 1-gen-2005 | BAVA, ELIO + | - |
Laser Spectroscopy of Hydrogen Iodide molecule at 1.54 µm / C., Svelto; G., Galzerano; M., Norgia; Bava, Elio. - (2005), pp. 1547-1550. (Intervento presentato al convegno 22ND IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENTS TECHNICAL CONFERENCE tenutosi a Ottawa nel May 17-19 2005). | 1-gen-2005 | BAVA, ELIO + | - |
Measurements of Near Infrared Frequency Mixing by Metal-Semiconductor Point-Contact Diodes / Bava, Elio; N., Beverini; G., Carelli; A., DE MICHELE; G., Galzerano; E., Maccioni; A., Moretti; M., Prevedelli; F., Sorrentino; C., Svelto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - Vol. 54, No. 4,:(2005), pp. 1407-1411. | 1-gen-2005 | BAVA, ELIO + | - |
Frequency stabilisation of a 1.54 µm Er-Yb microlaser against Doppler-free 13C2H2 absorptions / Galzerano, G.; Svelto, C.; Ferrario, F.; Bava, Elio. - In: OPTICS COMMUNICATIONS. - ISSN 0030-4018. - 209(4-6):(2002), pp. 411-416. | 1-gen-2002 | BAVA, ELIO + | - |
Frequency-Noise Sensitivity and Amplitude-Noise Immunity of Discriminators Based on Fringe-Side Fabry-Perot Cavities / Bava, Elio; Galzerano, G.; Svelto, C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL. - ISSN 0885-3010. - 49(8):(2002), pp. 1150-1159. | 1-gen-2002 | BAVA, ELIO + | - |
High-Resolution Spectroscopy of the 39K Transitions at 770 nm and 13C2H2 Saturated Lines by a Solid-State Laser at 1.54 um: Toward an Accurate Frequency Standard in the Optical Communication Band / Svelto, C.; Galzerano, G.; Bava, Elio; Ferrario, F.; Arie, A.; Klein, R.; Arbore, M. A.; Fejer, M. A.; Onae, A.; Marano, M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 51(4):(2002). | 1-gen-2002 | BAVA, ELIO + | - |
Amplitude and frequency stabilized solid-state lasers in the near infrared / Laporta, P.; Taccheo, S.; Marano, M.; Svelto, O.; Bava, Elio; Galzerano, G; Svelto, C.. - In: JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHYSICS. - ISSN 0022-3727. - 34:16(2001), pp. 2396-2407. [10.1088/0022-3727/34/16/303] | 1-gen-2001 | TACCHEO S.BAVA, ELIO + | - |
Diode-pumped 2 μm optical oscillator for high-resolution spectroscopy and frequency metrology / Galzerano, G.; Svelto, C.; Bava, Elio. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 50:(2001), pp. 1003-1006. | 1-gen-2001 | BAVA, ELIO + | - |
Amplitude response of Fabry-Perot frequency discriminators UFFC / Bava, Elio; G., Galzerano; C., Svelto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL. - ISSN 0885-3010. - 47:(2000), pp. 1115-1121. | 1-gen-2000 | BAVA, ELIO + | - |
Measurement and characterization of the frequency noise of a laser-diode-pumped single-frequency Tm-Ho:YAG laser / P., Laporta; Bava, Elio; C., Svelto; A., Sapia; A., Cosentino. - In: OPTICAL AND QUANTUM ELECTRONICS. - ISSN 0306-8919. - 32:(2000), pp. 1081-1095. | 1-gen-2000 | BAVA, ELIO + | - |
Realization and characterization of fiber-pumped room temperature Tm:YAG and Tm-Ho:YAG lasers at 2 umwavelength / C., Svelto; G., Galzerano; A., Maffiolini; Bava, Elio. - 1:(2000), pp. 160-163. (Intervento presentato al convegno 14th European Frequency and Time Forum nel March). | 1-gen-2000 | BAVA, ELIO + | - |