FANCHINI, Giovanni
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 123
NA - Nord America 64
AS - Asia 26
SA - Sud America 6
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 1
Totale 220
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 64
FR - Francia 41
IT - Italia 22
GB - Regno Unito 21
DE - Germania 17
SG - Singapore 10
CN - Cina 7
BR - Brasile 5
RU - Federazione Russa 5
SE - Svezia 5
NL - Olanda 4
TR - Turchia 4
CH - Svizzera 3
KR - Corea 3
IE - Irlanda 2
A2 - ???statistics.table.value.countryCode.A2??? 1
CO - Colombia 1
FI - Finlandia 1
JO - Giordania 1
RO - Romania 1
UA - Ucraina 1
VN - Vietnam 1
Totale 220
Città #
Ashburn 21
Southend 18
Trieste 9
Seattle 6
Singapore 5
Izmir 4
Saint Petersburg 4
Berlin 3
Bern 3
Boardman 3
Princeton 3
San Ramon 3
Turin 3
Beijing 2
Des Moines 2
Dublin 2
Florence 2
Herkenbosch 2
Jacksonville 2
Los Angeles 2
San Donato Milanese 2
Santa Clara 2
Ann Arbor 1
Baltimore 1
Bogotá 1
Buffalo 1
Cambridge 1
Campinas 1
Capão da Canoa 1
Chandler 1
Correia Pinto 1
Dearborn 1
Fairfield 1
Frankfurt 1
Galati 1
Guarulhos 1
Hanoi 1
Helsinki 1
Houston 1
Jinan 1
Jundiaí 1
London 1
Naples 1
New York 1
Norwalk 1
Pennsylvania Furnace 1
Prescot 1
Rome 1
Rotterdam 1
Shenzhen 1
Udine 1
Verdello 1
Woodbridge 1
Zaporozhye 1
Zhengzhou 1
Totale 136
Nome #
Surface analysis and defect characterization of 4H–SiC wafers for power electronic device applications 220
Totale 220
Categoria #
all - tutte 648
article - articoli 648
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.296


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/20216 0 0 0 3 0 1 0 0 1 0 1 0
2021/202211 1 0 0 0 1 0 0 1 1 2 2 3
2022/202318 2 2 0 0 1 2 3 1 3 0 0 4
2023/20246 0 0 0 2 1 0 0 0 0 0 0 3
2024/202533 0 1 3 1 1 2 1 2 6 1 4 11
2025/20268 1 4 3 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 220