FANCHINI, Giovanni
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 111
NA - Nord America 59
AS - Asia 14
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 1
Totale 185
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 59
FR - Francia 41
GB - Regno Unito 21
DE - Germania 17
IT - Italia 10
RU - Federazione Russa 5
SE - Svezia 5
NL - Olanda 4
TR - Turchia 4
CH - Svizzera 3
KR - Corea 3
SG - Singapore 3
CN - Cina 2
IE - Irlanda 2
A2 - ???statistics.table.value.countryCode.A2??? 1
FI - Finlandia 1
JO - Giordania 1
RO - Romania 1
UA - Ucraina 1
VN - Vietnam 1
Totale 185
Città #
Ashburn 21
Southend 18
Seattle 6
Izmir 4
Saint Petersburg 4
Berlin 3
Bern 3
Boardman 3
Princeton 3
San Ramon 3
Turin 3
Des Moines 2
Dublin 2
Herkenbosch 2
Jacksonville 2
San Donato Milanese 2
Singapore 2
Ann Arbor 1
Baltimore 1
Beijing 1
Cambridge 1
Chandler 1
Dearborn 1
Fairfield 1
Frankfurt 1
Galati 1
Hanoi 1
Helsinki 1
Houston 1
London 1
Naples 1
New York 1
Norwalk 1
Pennsylvania Furnace 1
Prescot 1
Rome 1
Rotterdam 1
Santa Clara 1
Shenzhen 1
Verdello 1
Woodbridge 1
Zaporozhye 1
Totale 108
Nome #
Surface analysis and defect characterization of 4H–SiC wafers for power electronic device applications 185
Totale 185
Categoria #
all - tutte 534
article - articoli 534
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.068


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2019/20208 0 0 0 0 2 1 2 1 1 0 0 1
2020/20218 2 0 0 3 0 1 0 0 1 0 1 0
2021/202211 1 0 0 0 1 0 0 1 1 2 2 3
2022/202318 2 2 0 0 1 2 3 1 3 0 0 4
2023/20246 0 0 0 2 1 0 0 0 0 0 0 3
2024/20256 0 1 3 1 1 0 0 0 0 0 0 0
Totale 185