Archivio Istituzionale della RicercaFERROGLIO, LUCA
FERROGLIO, LUCA
Dipartimento dei Sistemi di Produzione ed Economia dell'Azienda (attivo dal 01/01/1900 al 31/12/2011)
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Measurement of the lattice parameter of a silicon crystal
2009 Massa, E; Mana, G; Kuetgens, U; Ferroglio, Luca
Observation of a bent crystal-lattice by x-ray interferometry
2009 Massa, E; Mana, G; Ferroglio, Luca
Influence of surface stress in the determination of the (220) lattice spacing of silicon
2008 Ferroglio, Luca; Mana, G; Palmisano, C; Zosi, G.
Si lattice parameter measurement by centimeter X-ray interferometry
2008 Ferroglio, Luca; Mana, G; Massa, E.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Measurement of the lattice parameter of a silicon crystal / Massa, E; Mana, G; Kuetgens, U; Ferroglio, Luca. - In: NEW JOURNAL OF PHYSICS. - ISSN 1367-2630. - 11:(2009). | 1-gen-2009 | FERROGLIO, LUCA + | - |
| Observation of a bent crystal-lattice by x-ray interferometry / Massa, E; Mana, G; Ferroglio, Luca. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - 17:(2009), pp. 11172-11178. [10.1364/OE.17.011172] | 1-gen-2009 | FERROGLIO, LUCA + | - |
| Influence of surface stress in the determination of the (220) lattice spacing of silicon / Ferroglio, Luca; Mana, G; Palmisano, C; Zosi, G.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 45:(2008), pp. 110-118. | 1-gen-2008 | FERROGLIO, LUCA + | - |
| Si lattice parameter measurement by centimeter X-ray interferometry / Ferroglio, Luca; Mana, G; Massa, E.. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - 16:(2008), pp. 16877-16888. | 1-gen-2008 | FERROGLIO, LUCA + | - |