GARAU, Francesco
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 166
NA - Nord America 131
EU - Europa 98
SA - Sud America 13
Totale 408
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 126
VN - Vietnam 61
SG - Singapore 39
IT - Italia 31
CN - Cina 22
RU - Federazione Russa 21
DE - Germania 14
BR - Brasile 12
BD - Bangladesh 11
GB - Regno Unito 7
FR - Francia 6
KR - Corea 6
IE - Irlanda 5
IN - India 5
HK - Hong Kong 4
IL - Israele 4
FI - Finlandia 3
ID - Indonesia 3
JO - Giordania 3
JP - Giappone 3
AT - Austria 2
CA - Canada 2
CH - Svizzera 2
TR - Turchia 2
AR - Argentina 1
DK - Danimarca 1
GL - Groenlandia 1
GT - Guatemala 1
HU - Ungheria 1
KZ - Kazakistan 1
MX - Messico 1
NL - Olanda 1
PH - Filippine 1
PT - Portogallo 1
RO - Romania 1
SA - Arabia Saudita 1
SE - Svezia 1
UA - Ucraina 1
Totale 408
Città #
Singapore 21
Houston 19
Hanoi 18
Turin 18
Ashburn 16
Chandler 15
Ho Chi Minh City 15
Council Bluffs 11
San Jose 10
Ann Arbor 6
Santa Clara 6
Berlin 5
Dublin 5
Hefei 5
Beijing 4
Camisano Vicentino 3
Hong Kong 3
Jakarta 3
Moscow 3
Princeton 3
Rome 3
Seoul 3
Tokyo 3
Bern 2
Boardman 2
Bremen 2
Bắc Ninh 2
Da Nang 2
Haiphong 2
Istanbul 2
Jerusalem 2
Lappeenranta 2
London 2
Menlo Park 2
Mumbai 2
Quận Ba 2
Romainville 2
São Paulo 2
Tel Aviv 2
Tongling 2
Almaty 1
Amman 1
Anápolis 1
Atlanta 1
Betim 1
Biên Hòa 1
Buffalo 1
Buzău 1
Cangzhou 1
Capaccio 1
Castanhal 1
Catania 1
Chandigarh 1
Charata 1
Chicago 1
Clark Freeport Zone 1
Cruz das Almas 1
Frankfurt am Main 1
Friesland 1
Guatemala City 1
Helsinki 1
Itapoá 1
Iztacalco 1
Laguna 1
Lauterbourg 1
Lisbon 1
Long Xuyen 1
Lucca 1
Melbourne 1
Milan 1
Montreal 1
Novo Hamburgo 1
Nuremberg 1
Nuuk 1
Phoenix 1
Phú Nhuận 1
Raleigh 1
Riyadh 1
Salt Lake City 1
Salto de Pirapora 1
Saluzzo 1
Santa Luzia 1
Seattle 1
Shanghai 1
São Vicente 1
Taastrup 1
Tam Kỳ 1
Tân Tiến 1
Vienna 1
Việt Trì 1
Vũng Tàu 1
Wilmington 1
Woodbridge 1
Xiamen 1
Yeonsu-gu 1
Yubileyny 1
Totale 288
Nome #
Exploiting post-silicon debug hardware to improve the fault coverage of Software Test Libraries 214
Effective techniques for automatically improving the transition delay fault coverage of Self-Test Libraries 198
Totale 412
Categoria #
all - tutte 1.414
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 1.414
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.828


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2021/202240 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 40
2022/202369 13 8 2 7 4 8 2 6 7 0 5 7
2023/202428 0 7 7 3 1 1 5 1 0 0 1 2
2024/202570 0 6 0 12 3 6 4 9 9 1 6 14
2025/2026205 13 8 6 9 12 13 32 19 45 27 16 5
Totale 412