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Design and test results of a 110 nm monolithic CMOS sensor with internal gain for sub-100 ps time-of-flight detectors / Follo, U.. - (2026 Jul 24), pp. 1-239.

Design and test results of a 110 nm monolithic CMOS sensor with internal gain for sub-100 ps time-of-flight detectors

FOLLO, UMBERTO
2026

Abstract

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24-lug-2026
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/3014650