Special issue on new generations of UI testing / Alégroth, Emil; Ardito, Luca; Coppola, Riccardo; Feldt, Robert. - In: SOFTWARE TESTING, VERIFICATION & RELIABILITY. - ISSN 1099-1689. - ELETTRONICO. - 31:3(2021), pp. 1-2. [10.1002/stvr.1770]
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https://hdl.handle.net/11583/2897128